Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice - Sorbonne Université Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2016

Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice

Claude R. Pasquier
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 828746
Marcelo Rozenberg
Thomas Maroutian
Guillaume Agnus
Raphaël Salot
  • Fonction : Auteur
Nathalie Brun
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 943095
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01355422 , version 1 (23-08-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01355422 , version 1

Citer

van Son Nguyen, van Huy Mai Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude R. Pasquier, et al.. Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01355422⟩
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