Atomic force microscope tip localization and tracking through deep learning based vision inside an electron microscope - Sorbonne Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Atomic force microscope tip localization and tracking through deep learning based vision inside an electron microscope

Domaines

Automatique / Robotique

Catherine ACHARD  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-02477481

Soumis le : jeudi 13 février 2020-13:59:27

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:28:05

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Dates et versions

hal-02477481 , version 1 (13-02-2020)

Identifiants

Citer

Shuai Liang, Mokrane Boudaoud, Catherine Achard, Weibin Rong, Stéphane Régnier. Atomic force microscope tip localization and tracking through deep learning based vision inside an electron microscope. 2019 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), Nov 2019, Macau, France. pp.2435-2440, ⟨10.1109/IROS40897.2019.8968567⟩. ⟨hal-02477481⟩

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