Article Dans Une Revue Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique Année : 1985

A STEM-EDX study of the detection of intergranular segregation of sulfir in ultra-pure nickel.

D. Bouchet
  • Fonction : Auteur
C. Colliex
  • Fonction : Auteur
P. Trebbia
  • Fonction : Auteur

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04664635 , version 1 (30-07-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04664635 , version 1

Citer

Luc Beaunier, D. Bouchet, C. Colliex, P. Trebbia, Colette Vignaud. A STEM-EDX study of the detection of intergranular segregation of sulfir in ultra-pure nickel.. Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique, 1985, 10, pp.453-458. ⟨hal-04664635⟩
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