Elaboration and EXAFS characterization of amorphous MPS 3 (M = Mn, Fe, Ni) thin films - Sorbonne Université
Journal Articles Journal de Chimie Physique Year : 1989

Elaboration and EXAFS characterization of amorphous MPS 3 (M = Mn, Fe, Ni) thin films

Abstract

Amorphous MPS3 (M = Un, Fe, Ni) thin films have been prepared by flash evaporation of the corresponding crystalline MPS3 materials. The films have been characterized by several complementary techniques including EXAFS at grazing angle. Results show that the structural arrangement of the amorphous films is similar to that of the crystalline parent materials with some deviations depending on the metal.
Des films minces amorphes de matériaux MPS3 (M= Mn, Fe, Ni) ont été élaborés par évaporation flash de composés cristallins MPS3 correspondants. Les couches minces ont été étudiées par plusieurs techniques complémentaires en particulier par spectroscopie EXAFS à angle rasant. Les résultats montrent que l’arrangement structural dans les matériaux amorphes est très voisin de celui dans les composés MPS3 cristallins, avec toutefois de petites déviations dépendant du métal.

Dates and versions

hal-04609437 , version 1 (12-06-2024)

Identifiers

Cite

C. Gledel, J.-P. Audière, R. Clément, Robert Cortes. Elaboration and EXAFS characterization of amorphous MPS 3 (M = Mn, Fe, Ni) thin films. Journal de Chimie Physique, 1989, 86, pp.1691-1698. ⟨10.1051/jcp/1989861691⟩. ⟨hal-04609437⟩
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