One-Shot Non-Intrusive Calibration Against Process Variations for Analog/RF Circuits - Sorbonne Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Année : 2016

One-Shot Non-Intrusive Calibration Against Process Variations for Analog/RF Circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Ingénierie assistée par ordinateur Modélisation et simulation Electronique

Haralampos Stratigopoulos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01359608

Soumis le : vendredi 2 septembre 2016-17:21:34

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:56:15

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Dates et versions

hal-01359608 , version 1 (02-09-2016)

Identifiants

Citer

Martin Andraud, Haralampos-G. Stratigopoulos, Emmanuel Simeu. One-Shot Non-Intrusive Calibration Against Process Variations for Analog/RF Circuits. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2016, ⟨10.1109/TCSI.2016.2598184⟩. ⟨hal-01359608⟩

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