Étude EXAFS en polarisation de composés lamellaires
Abstract
In X-ray absorption experiments, polarization of synchrotron radiation can be turned to account in simply varying orientation of a lamellar compound sample in comparison with incident beam. Then, study of threshold gives informations about band structure and EXAFS provides angular informations added to usual radial distribution function.
Dans les expériences d’absorption X, on peut mettre à profit le caractère polarisé du rayonnement synchrotron en faisant simplement varier l’orientation de l’échantillon lamellaire par rapport au faisceau incident. L’étude des seuils permet alors d’obtenir des informations sur les structures de bandes et l’EXAFS peut fournir des informations angulaires en plus de l’habituelle fonction de distribution radiale.