Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM) - Sorbonne Université
Journal Articles Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique Year : 1978

Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM)

No file

Dates and versions

hal-04780344 , version 1 (13-11-2024)

Identifiers

  • HAL Id : hal-04780344 , version 1

Cite

Luc Beaunier, Michel Froment, Colette Vignaud. Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM). Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique, 1978, 3, pp.265-270. ⟨hal-04780344⟩
0 View
0 Download

Share

More