Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM) - Sorbonne Université
Article Dans Une Revue Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique Année : 1978

Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM)

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Chimie

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Soumis le : mercredi 13 novembre 2024-13:36:46

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  • HAL Id : hal-04780344 , version 1

Citer

Luc Beaunier, Michel Froment, Colette Vignaud. Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM). Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique, 1978, 3, pp.265-270. ⟨hal-04780344⟩

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