Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM) - Sorbonne Université
Journal Articles Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique Year : 1978

Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM)

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Chemical Sciences

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hal-04780344 , version 1 (13-11-2024)

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  • HAL Id : hal-04780344 , version 1

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Luc Beaunier, Michel Froment, Colette Vignaud. Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM). Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique, 1978, 3, pp.265-270. ⟨hal-04780344⟩

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CNRS LISE SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES CHIMIE-SU
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