Article Dans Une Revue
Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique
Année : 1978
Véronique Martin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-04780344
Soumis le : mercredi 13 novembre 2024-13:36:46
Dernière modification le : jeudi 14 novembre 2024-03:29:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04780344 , version 1
Citer
Luc Beaunier, Michel Froment, Colette Vignaud. Ségrégation intergranulaire du silicium dans les alliages nickel-silicium. Etude par spectrométrie de pertes d'énergie d'électrons en microscopie électronique à haute tension et analyse X (STEM). Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique, 1978, 3, pp.265-270. ⟨hal-04780344⟩
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