Elaboration, caractérisation et étude structurale par diffraction des rayons X des dépôts amorphes de gallium, bismuth et mercure. - Sorbonne Université Accéder directement au contenu
Thèse Année : 1981

Elaboration, characterization and structural study by X-ray diffraction of amorphous deposits of gallium, bismuth and mercury

Elaboration, caractérisation et étude structurale par diffraction des rayons X des dépôts amorphes de gallium, bismuth et mercure.

Résumé

Relatively thick deposition by condensation of metal vapors on supports cooled to a few Kelvin. Characterization by electrical measurements and differential thermal analysis. Determination of pair correlation functions and structure factor.
Dépôt relativement épais par condensation des vapeurs métalliques sur des supports refroidis à quelques Kelvin. Caractérisation par mesures électriques et analyse thermique différentielle. Détermination des fonctions de corrélation de paires et facteur de structure.
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tel-04613958 , version 1 (17-06-2024)

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Adnan Bererhi. Elaboration, caractérisation et étude structurale par diffraction des rayons X des dépôts amorphes de gallium, bismuth et mercure.. Chimie. Université Pierre & Marie Curie - Paris 6, 1981. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨tel-04613958⟩
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