Extraction of IC interconnect parasitic capacitances using dual discrete geometric methods with prism elements - Sorbonne Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Extraction of IC interconnect parasitic capacitances using dual discrete geometric methods with prism elements

Xiaoyu Xu
  • Fonction : Auteur
Institute of Electrical Engineering
Zhuoxiang Ren
Laboratoire d'Electronique et Electromagnétisme
CV

Domaines

Electromagnétisme

Pascal Gomez  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-00847656

Soumis le : mercredi 24 juillet 2013-10:33:56

Dernière modification le : mardi 26 mars 2024-16:24:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00847656 , version 1 (24-07-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00847656 , version 1

Citer

Xiaoyu Xu, Zhuoxiang Ren. Extraction of IC interconnect parasitic capacitances using dual discrete geometric methods with prism elements. Conference EMF 2013, Apr 2013, Bruges, Belgium. ⟨hal-00847656⟩

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